顯微熔點儀X-4

簡要描述：熔點測量范圍：室溫至320℃ 測量重復(fù)性：±1℃(在<200℃時) ±2℃(在200～300℃時)

產(chǎn)品型號： X-4

所屬分類：熔點儀

更新時間：2024-12-02

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

詳情介紹

測定物質(zhì)的熔點。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。

X-4顯微熔點儀產(chǎn)品介紹

熔點測量范圍：室溫至320℃

測量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時）
          ±2℃（在200～300℃時）

光學(xué)放大倍數(shù)：目鏡10X；物境4X

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